产品特点
测量附件齐，使用范围广，可满足不同的测量要求；
利用阿贝比较原理和采用了高度的光栅测量系统，具有较高的测量度；
采用进口光栅系统及进口细分硬卡，细分度高，稳定可靠；
测量主轴采用优化方形设计，确保测量时运动性能的稳定性；
与电脑连接，软件功能强大，可对示值误差和温度造成的测量误差进行修正，且带有自动判别拐点功能；
外观流线造型，美观大方，独特新颖；
产品用途
与传统的测长仪不同的是：JD36-H数据处理高度测长仪采用光栅数显技术,是光、机、电、算一体化的高技术产品，大大提高了仪器的准确性和操作效率。同时，又增加了多种附件，提高了其“性”。
其主要测量对象包括：
a. 光滑圆柱形零件(轴、孔、塞规、环规等)；
b. 内、外螺纹、螺纹塞规、螺纹环规的中径；
c. 带平行平面的零件(卡规、量棒、量块)。
技术参数
测量范围（mm）： a、 外尺寸：相对测量0～750 ，测量0～100
b、内尺寸：使用小测钩（伸入深度12，壁厚50）为10～480
使用大测钩（伸入深度50，壁厚85）为30～450
使用电测装置测量：用电测测钩 为1～60，用万测钩时为14～112测量分辨率： 0.1μ
仪器准确度（20C±0.2C情况下）：外尺寸测量时，JD36仪器准确度：0.3μm
JD36-H仪器准确度：0.2μm
内尺寸测量时，JD36仪器准确度：0.7μm
JD36-H仪器准确度：0.6μm
内螺纹测量：内螺纹中径测量（mm）:使用小测钩时（小径为13～30）
使用大测钩时（小径为31～2×（70-壁厚））， 螺距：0.5～6
外螺纹中径测量（mm）:至200，螺距1-6
测量力（N）：0、1.5、2.5
仪器示值变动性:
JD36-H：外尺寸测量时 2σ≤0．1μm
内尺寸测量时 2σ≤0．3μm
工作台：安装面积（mm ）约160×160
高度调节范围 （ 0 ～100）mm，横向行程 ： 25 mm
绕Y轴倾斜：±3°， 工作台转动：±4°
允许荷重：10kg
测帽内径配合尺寸：φ6H7
测帽杆与测帽内径配合的外径尺寸：φ6g6仪器使用环境：室温20℃±0.5℃，相对湿度不应超过60%
仪器外形尺寸（mm）:长X宽X高=1060×390×450
仪器净重：170kg
软件功能
● 外尺寸测量、外尺寸比较测量；
● 内尺寸测量；
● 内、外尺寸测量准确度；
● 内、外螺纹测量；
● 光栅示值区段修正、光栅示值线性修正、温度修正；
● 键盘输入数据、键盘修改数据、删除坐标点；
● 打开文档、保存坐标点；
● 光栅数据图形化并寻找转折点；
● 测量结果导入Execl、打印测试结果；